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- Maison > Fournir > Shenzhen Railay technologie _ diffraction des rayons X [Bristol] _X-ray diffractomètre
Nom de l'information: | Shenzhen Railay technologie _ diffraction des rayons X [Bristol] _X-ray diffractomètre |
Publié: | 2014-06-04 |
Validité: | 0 |
Caractéristiques: | Limitation |
Quantité: | |
Description Prix: | |
Description détaillée du produit: | Shenzhen Railay technologie _ diffraction des rayons X [Bristol] diffractomètre _X-ray fournies par la technologie Railay. Nous sommes Shenzhen Railay Technology Development Co., Ltd (www.inov-x.com) est situé: Shenzhen, Guangdong spécialités: minerai analyseur, analyseur alliage, analyseurs environnementaux, GC-MS Chiffre d'affaires Chiffre d'affaires cristal méthode méthode de cristal portable échantillons de rayons X monochromatiques monocristallines ont été irradiées Tianmen rotation diffractomètre à rayons X pour l'axe de rotation de l'échantillon est l'axe des enregistrements cinématographiques cylindriques générés raies de diffraction, formant des taches de diffraction discrètes sur le film. Un tel diagramme de diffraction facilement et précisément mesurée et la direction de diffraction de l'intensité de diffraction du diagramme de diffraction du cristal de la structure cristalline inconnue adapté à l'analyse. Méthode de cristal chiffre d'affaires inférieur peut facilement analyser la symétrie du cristal (comme quadrature, monoclinique système cristallin, triclinique, etc) la structure, mais rarement utilisé. Grace à l'analyse expérimentale, l'impact de cet article peut être obtenue poudre X-ray diffraction des mesures de certains facteurs sur les résultats expérimentaux. Leur taille (1) des particules d'échantillons de poudre ont un impact relativement important sur les résultats de X-analyse par diffraction des résultats des tests montrent que des particules de l'échantillon de poudre vers le bas à 50 um sur les résultats de la diffraction mesuré était meilleure. détermination de la taille des grains et de distorsion du réseau si le matériau de grain polycristallin sans distorsion, assez grand diffraction des rayons X, la théorie de la diffraction de poudre, qui motif de lignes spectrales devrait être particulièrement forte, mais dans des expériences réelles Xiantao diffraction des rayons X, cette ligne ne peut pas être vu. C'est parce que l'effet combiné des facteurs et des facteurs physiques tels que l'instrument, de sorte que l'élargissement de la raie de diffraction pure. Forme de la raie spectrale pur et la largeur sont déterminées par la taille moyenne des grains de l'échantillon, la distribution de taille et de défauts dans le réseau cristallin de la principale Qianjiang diffraction des rayons X, il est approprié pour l'analyse linéaire, ces facteurs peuvent être obtenus sur la nature du principe de l' et des échelles et d'autres informations. ? Détecteur de Trace échantillon de test ne 15mg, particulièrement adapté pour la détection et l'analyse de l'enquête pénale, l'environnement, les explosifs, la corrosion des tuyaux et d'autres difficiles à recueillir des échantillons. |
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Droit d'auteur © GuangDong ICP No. 10089450, Science et Technology Development Co., Ltd de la ville de Shenzhen Railay Tous droits réservés.
Support technique: ShenZhen AllWays Technologie Développement Co., Ltd.
AllSources réseau's désistement: La légitimité de l'information de l'entreprise ne s'engage pas à toute responsabilité de garantie
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