Modification de la structure de base en forme de X-ray diffraction des rayons X Diffractomètre à des fins diverses, mais la structure de base est très similaire à la figure 4 montre la structure de base du principe de la diffraction des rayons X diagramme Qianjiang diffraction des rayons X, les composants principaux comprennent Partie 4. (1) source de rayons X avec une grande stabilité nécessaire pour la mesure de rayons X pour produire le changement cible de rayons X matériau tube d'anode peut changer la longueur d'onde des rayons X Suizou diffraction des rayons X, la tension d'anode peut être commandée pour régler l'intensité des sources de rayons X. (2) ajuster les échantillons du système de la position de l'échantillon et le mécanisme d'alignement de l'échantillon doivent être un monocristal, poudre, polycristallin ou microcristallin masse solide. (3) détecteur de rayons diffractés détecter simultanément l'intensité ou la direction de la diffraction, le diagramme de diffraction peut être obtenu polycristallin système d'enregistrement de données de mesure de l'instrument ou le système de traitement informatique. Traitement et analyse système (4) diagramme de diffraction de moderne diffractomètre à rayons X sont installés avec un logiciel dédié diffraction de traitement et d'analyse modèle pour les systèmes informatiques Ezhou diffraction des rayons X, qui se caractérise par l'automatisation et intelligent. Polycristallin polycristallin diffraction des méthodes de diffraction des rayons X comprennent procédé photographique et diffractomètre. Caractérisé en rayons X de xérographie xérographie émises par la lumière échantillon source polycristallin, le diagramme de diffraction enregistré avec la feuille de fond. En fonction de la position relative de l'échantillon et négatifs, procédé photographique peut être divisé en droit de Debye, la méthode et la méthode de trou d'épingle, dans lequel la loi de focalisation la plus courante de Debye. Il existe différents (2) le montant de la porte-échantillon pour charger les résultats de diffraction de poudre d'échantillon influencent directement l'échantillon de poudre dans le support d'échantillon seulement le niveau de remplissage de l'étui, afin d'obtenir des résultats plus précis et la diffraction idéale (3) de la trace d'un échantillon ou d'un petit échantillon méthode d'échantillonnage en utilisant remplissage horizontal plus scientifique et raisonnable, l'effet des motifs de diffraction résultant sera mieux.] [diffraction des rayons X, diffraction des rayons X Ezhou, la technologie de Shenzhen Railay Railay fournies par la technologie. Bienvenue à consulter Shenzhen, la science et la technologie Development Co., Ltd Railay (www.inov-x.com), n'oubliez pas de spécifier si le contact se fait par le ?Business Alliance Member" voir, je vous remercie! Contact: Mlle Tang