La détermination précise des paramètres de maille de la structure de base des paramètres de diffraction Shuyang matériau cristallin de constante de réseau de rayons X, la constante de réseau a été mesurée dans les études de transformation en phase solide afin de déterminer le type de solution, la courbe de solubilité de la solution solide a été mesurée en termes, le coefficient de dilatation thermique a été appliqué . La constante de réseau est déterminé en mesurant la position de la raie de diffraction des rayons X (θ) sont obtenues en mesurant la position de la figure de diffraction de chacune des lignes de diffraction d'une valeur constante de réseau peuvent être obtenues. ? Automatique à l'aide d'un dispositif de vibration de l'échantillon, ce qui élimine la nécessité d'un goniomètre de bureau traditionnel, la préparation des échantillons plus facile, sans tourner le goniomètre d'essai et d'autres composants mécaniques, facile à utiliser, sans opération professionnelle, un haut degré d'automatisation. . X-ray mesure de contrainte à la mesure du stress modifie diagramme de diffraction caractéristique comme mesure de la déformation. Contrainte macroscopique uniformément répartie dans une large gamme d'objets dans Dafeng diffraction des rayons X, la déformation uniforme à l'intérieur de la plage de performances qui a généré le même sens avec le même nom de chaque variation de l'espacement des grains Hefei même diffraction des rayons X, ayant pour résultat des lignes de diffraction à une direction de déplacement, qui est la base des rayons X mesure des contraintes macro; contrainte microscopique parmi les grains de cristal d'un grain ou différents l'un de l'autre entre les parties, afin de produire la souche uniforme a montré certaines zones de la distance interréticulaire augmente, certaines zones espacement réduit, ce qui entra?ne le déplacement des raies de diffraction dans des directions différentes de diffraction des rayons X, il diffuse la raie de diffraction élargie, qui est la base de la mesure des rayons X de la contrainte microscopique. Ultra-microscopique contrainte-déformation pour rendre déviation atomique à partir de la position d'équilibre de la région, ce qui conduit à un affaiblissement des raies de diffraction, la contrainte ultra-microscopique peut être mesurée par des changements dans l'intensité des rayons X. Le stress est généralement mesurée par un diffractomètre. Diffraction des rayons X _ Shenzhen Railay technologie _ Shuyang fournies par diffraction des rayons X de la technologie Railay. Railay Technology Development Co., Ltd de la ville de Shenzhen (www.inov-x.com) dans le minerai analyseur, analyseur alliage, analyseurs environnementaux, portable GC-MS et d'autres industries ont une grande visibilité, gestion de l'intégrité, à la fois la qualité de service, Bienvenue à s'enquérir, ou consulter notre "appel de la Ligue affaires" il!